Dựa trên sự phát triển của công nghệ sơi quang và công nghệ laser, hãng Thermtest đã phát triển và giới thiệu thiết bị Steady-State ThermoReflectance Fiberoptics (SSTR-F) đo độ dẫn nhiệt của màng mỏng và lớp phủ với nhiều tính năng ưu việt:
- Vật liệu đo: chất rắn & chất lỏng
- Dải đo độ dẫn nhiệt: 0.05 – 2,500.00 W/m*K
- Hướng đo: xuyên qua chiều dày và trong mặt phẳng
- Kích thước điểm: tới 100 micron
- Độ dày màng mỏng: >5nm (với tùy chọn FDTR)
- Dải nhiệt độ: 80K – 600K
- Độ chính xác: 5%
- Độ lặp lại: 2%
Để biết thêm thông tin, vui lòng tham khảo theo link giới thiệu thiết bị: https://slstech.com.vn/sstr-f_he-thong-do-do-dan-nhiet-su-dung-cong-nghe-soi-quang-va-laser-cho-mang-mong-va-lop-phu/