SSTR-F_Hệ thống đo độ dẫn nhiệt sử dụng công nghệ sợi quang và laser cho màng mỏng và lớp phủ

Model: SSTR-F

Hãng sản xuất: Thermtest Inc – Canada

Ứng dụng:

  • Đo độ dẫn nhiệt của màng mỏng và lớp phủ (chất rắn và chất lỏng)
  • Độ dày màng mỏng và lớp phủ > 5 nanomet (với modul FDTR)
  • Đo điện trở ranh giới nhiệt (với modul FDTR)
  • Độ dẫn nhiệt từ 0.05 – 2,500.00 W/m*K
  • Lập bản đồ độ dẫn nhiệt